基于扫描探针显微镜的纳米磁热原位探测装置及探测方法
专利名称:基于扫描探针显微镜的纳米磁热原位探测装置及探测方法
专利(申请)号:ZL201410494331.5
申请日期:2014-09-24
授权日期:2018-07-03 00:00:00
发明人:李润伟; 陈欣欣; 刘宜伟; 陈斌; 王保敏
其他发明人:
专利权人:中国科学院宁波材料技术与工程研究所
专利(申请)号:ZL201410494331.5
申请日期:2014-09-24
授权日期:2018-07-03 00:00:00
发明人:李润伟; 陈欣欣; 刘宜伟; 陈斌; 王保敏
其他发明人:
专利权人:中国科学院宁波材料技术与工程研究所