中国科学院宁波材料技术与工程研究所

基于扫描探针显微镜的微/纳米热电原位探测装置及探测方法

专利名称:基于扫描探针显微镜的微/纳米热电原位探测装置及探测方法
专利(申请)号:ZL201410495722.9
申请日期:2014-09-24
授权日期:2018-10-19 00:00:00
发明人:李润伟; 朱小健; 刘宜伟; 陈斌; 王保敏
其他发明人:
专利权人:中国科学院宁波材料技术与工程研究所