专利名称：一种表征纳米材料稳定性的方法
专利(申请)号：ZL202010824858.5
申请日期：2020-08-17 00:00:00
授权日期：2023-07-14 00:00:00
第一发明人：沈彩
其他发明人：沈彩; 陈立杭; 刘兆平
专利权人：中国科学院宁波材料技术与工程研究所