专利名称：一种钕铁硼磁体和调控钕铁硼磁体粗晶层晶粒尺寸及粒径分布的方法
专利(申请)号：ZL202010717784.5
申请日期：2020-07-23 00:00:00
授权日期：2022-08-02 00:00:00
第一发明人：都业源
其他发明人：都业源; 陈仁杰; 尹文宗; 唐旭; 剧锦云; 闫阿儒
专利权人：中国科学院宁波材料技术与工程研究所