中国科学院宁波材料技术与工程研究所

基于IVCM图像的角膜神经弯曲度测量系统及方法

专利名称:基于IVCM图像的角膜神经弯曲度测量系统及方法
专利(申请)号:ZL202010493501.3
申请日期:2020-06-03 00:00:00
授权日期:2023-07-04 00:00:00
第一发明人:苏攀
其他发明人:苏攀; 赵一天; 谢建洋; 蒋珊珊; 岳星宇; 刘江
专利权人:宁波慈溪生物医学工程研究所; 中国科学院宁波材料技术与工程研究所