专利名称：一种衰减全内反射光谱仪及其应用
专利(申请)号：ZL201711431316.6
申请日期：2017-12-26 00:00:00
授权日期：2020-12-22 00:00:00
第一发明人：李赫
其他发明人：李赫; 陈荣桥; 褚伍波; 江南; 郭春娥; 郭小咪; 戴高乐
专利权人：中国科学院宁波材料技术与工程研究所