专利名称：能带缺陷密度分布的测试方法
专利(申请)号：ZL201510610881.3
申请日期：2015-09-23 00:00:00
授权日期：2019-02-26 00:00:00
第一发明人：戴明志
其他发明人：戴明志
专利权人：中国科学院宁波材料技术与工程研究所