专利名称：一种柔性磁性薄膜饱和磁致伸缩系数的测量方法
专利(申请)号：ZL201210363918.3
申请日期：2012-09-26 00:00:00
授权日期：2015-10-14 00:00:00
第一发明人：詹清峰
其他发明人：詹清峰; 张晓山; 刘宜伟; 代国红; 李润伟
专利权人：中国科学院宁波材料技术与工程研究所