专利名称：纳米材料或微纳器件的显微重复定位方法
专利(申请)号：ZL200910152441.2
申请日期：2009-09-14 00:00:00
授权日期：2011-02-02 00:00:00
第一发明人：吴爱国
其他发明人：吴爱国; 曾乐勇
专利权人：中国科学院宁波材料技术与工程研究所