专利名称：一种多功能离子导体电学性能测试装置
专利(申请)号：ZL200810059618.X
申请日期：2008-01-30 00:00:00
授权日期：2012-04-25 00:00:00
第一发明人：王建新
其他发明人：王建新; 王蔚国; 王丽琴; 陶有堃; 邵静; 何长荣; 牛金奇
专利权人：中国科学院宁波材料技术与工程研究所